FilmTek 2000SE光譜型橢偏儀

簡(jiǎn)要描述：FilmTek 2000SE光譜型橢偏儀以非常低的成本為薄膜應(yīng)用提供了的測(cè)量性能和速度。FilmTek SE提供了自動(dòng)測(cè)量薄膜厚度、折射率和消光系數(shù)的功能，非常適合學(xué)術(shù)和研發(fā)。

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價(jià)格區(qū)間	面議	產(chǎn)地類別	進(jìn)口

Measurement Features	FilmTek™ 2000SE / 3000SE
Index of Refraction折射率 (at 2µm thickness)	±0.0002
Thickness Measurement Range 膜厚范圍	1Å-200µm
Maximum Spectral Range (nm) 大光譜范圍	190-1700
Standard Spectral Range (nm) 標(biāo)準(zhǔn)光譜范圍	240-1000
Reflection 反射	Yes
Transmission 透射	Yes (3000)
Spectroscopic Ellipsometry 光譜橢圓分析法	Yes
Power Spectral Density	Yes
Multi-angle Measurements (DPSD)	Yes
TE & TM Components of Index	No
Multi-layer thickness	Yes
Index of Refraction	Yes
Extinction (absorption) Coefficient	Yes
Energy band gap	Yes
Composition	Yes
Crystallinity	Yes
Inhomogeneous Layers	Yes
Surface Roughness	Yes

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