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NanoSystem CS-2000氣缸內(nèi)壁光學(xué)測量系統(tǒng)結(jié)合了無損分析性能, 操作便利。除了評估ISO粗糙度值, 采用白光干涉測量技術(shù)之外, 這款緊湊型系統(tǒng)還可以測量納米尺度粗糙度, 亞納米分辨率和生產(chǎn)水平能力的三維表面形貌。 它可以測量直徑從70到160毫米的缸孔。

奧林巴斯OLYMPUS DSX1000超景深數(shù)碼顯微鏡用于觀察和測量各種樣品，包括電子元件和金屬材料。此顯微鏡使用簡單，只要放上樣品，就可以輕松地完成 3D 觀察、測量、報(bào)告自動(dòng)生成等一系列操作。

奧林巴斯Olympus STM7工業(yè)測量顯微鏡系列采用了當(dāng)前*光學(xué)顯微鏡中所使用的UIS2無限遠(yuǎn)校正光學(xué)系統(tǒng)。因此，觀察到的圖像具有高分辨率和高對比度，此外，像差也被*消除，以確保實(shí)現(xiàn)對微小細(xì)節(jié)的高精度測量。

NanoSystem NVM-6000P表面形貌測量系統(tǒng)測為LCD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS，Engineering Surfaces等領(lǐng)域提供納米級(jí)別精度的測l。NVM-6000P是型設(shè)備，用于基板表面形貌的測量。 基板上的Via Hole，Pad形狀，Pattern形貌和表面形貌等11個(gè)項(xiàng)目可以進(jìn)行自動(dòng)測量。

Olympus 3D測量激光顯微鏡OLS5000作為3D測量顯微鏡有著更真實(shí)的三維形貌反映能力，具有操作更便捷、更快速的優(yōu)勢。OLS5000采用計(jì)算機(jī)直觀控制，搭載的掃描算法，可通過計(jì)算機(jī)的處理轉(zhuǎn)換，快速獲得完整帶有高度信息的樣品表面圖像，并通過對樣品不同層面的掃描和計(jì)算機(jī)處理。在使用時(shí)，只要在放置樣品后按動(dòng)按鈕，設(shè)備就會(huì)自動(dòng)進(jìn)行工作，無需進(jìn)行復(fù)雜的設(shè)置調(diào)整，即使是不熟練的用戶也可獲準(zhǔn)確的檢測結(jié)果

奧林巴斯Olympus半導(dǎo)體顯微鏡MX63/63L系統(tǒng)支持檢測尺寸達(dá)300毫米的晶圓、平板顯示器、印刷電路板以及其他樣品的質(zhì)量。這些符合人體工學(xué)設(shè)計(jì)的人性化系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，可在各種應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)Z佳觀察條件。結(jié)合奧林巴斯Stream圖像分析軟件使用時(shí)，從觀察到生成報(bào)告的整個(gè)檢測流程更簡潔直觀。